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11e congrès international de métrologie - - toulon, 20-23 octobre 2003

Congres International De Metrologie (Auteur principal)

Livre | Format : Livre | Editeur : Cetim | Date de parution : 11/04/2005

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Résumé

Le congrès international de métrologie est organisé tous les 2 ans par le Collège français de métrologie, avec la participation du Bureau national de métrologie. En 2003, la manifestation a connu la participation scientifique de l'Institut portugais de la qualité (IPQ). L'objectif est de faire le point sur les techniques d'étalonnage et de mesure originales, développées ou en cours de développement, et de présenter les évolutions de la fonction métrologie et ses implications dans l'industrie, l'environnement, l'économie et la qualité, au niveau national et international. Les thèmes concernant la métrologie dimensionnelle qui ont été abordés lors de cette manifestation sont les suivants : qualité -accréditation : 9 conférences , optimisation des processus de mesures : 3 conférences , incertitude des mesures : 8 conférences , mesures dimensionnelles : 12 conférences. Nous proposons ici une synthèse des 32 exposés présentés.

Détails

Plus d’information
EAN 9782854006360
ISBN 2854006364
Contributeurs Congres International De Metrologie (Auteur principal)
Format Livre
Nombre de pages 26
Éditeur Cetim
Collection PERFORMANCES
Langue Français
Largeur 21 cm
Longueur 30 cm
Poids 0.09 kg
Impression à la demande Non
Catégories Livres, Sciences et Techniques

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